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Fluke 789 ProcessMeter™ 過程多用表
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新品Fluke紅外熱像儀Ti200
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簡介：溫度測量范圍（-10°C 以下未校準） -20 °C 至 +650 °C （-4 °F 至 +1202 °F） 溫度測量精度 ± 2 °C 或 2 % （處于 25 °C 額定溫度時，取較大值） 屏顯發(fā)射率校正 是（根據(jù)數(shù)字和表格） 屏顯反射背景溫度補償 是
Topas2000電能質量分析儀
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