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影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六個(gè)原因

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影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的六個(gè)原因

  (1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
  (2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
  (3) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
  (4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的;
  (5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
  (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大。

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發(fā)布人:2010/1/11 11:17:00928 發(fā)布時(shí)間:2010/1/11 11:17:00 此新聞已被瀏覽:928次