紫外可見分光光度計的常見故障和使用經(jīng)驗

紫外可見分光光度計的常見故障和使用經(jīng)驗
一．光源部分：
（1）故障：鎢燈不亮；
原因：鎢燈燈絲燒斷（此種原因幾率最高）；
檢查：鎢燈兩端有工作電壓，但燈不亮；取下鎢燈用萬用表電阻檔檢測。
處置：更換新鎢燈； 

    （2）故障：鎢燈不亮；
原因：沒有點燈電壓；
檢查：保險絲被熔斷；
處置：更換保險絲，（如更換后再次燒斷則要檢查供電電路）；

    （3）故障：氘燈不亮；
原因：氘燈壽命到期（此種原因幾率最高）；
檢查：燈絲電壓、陽極電壓均有，燈絲也可能未斷（可看到燈絲發(fā)紅）；
處置：更換氘燈；

    （4）故障：氘燈不亮；
原因：氘燈起輝電路故障；
檢查：氘燈在起輝的過程中，一般是燈絲先要預熱數(shù)秒鐘，然后燈的陽極與陰極間才可起輝放電，假如燈在起輝的開始瞬間燈內(nèi)閃動一下或連續(xù)閃動，并且更換新的氘燈后依然如此，有可能是起輝電路有故障，燈電流調(diào)整用的大功率晶體管損壞的幾率最大。
處置：需要專業(yè)人士修理；

    二．信號部分：
（1）故障：沒有任何檢測信號輸出；
原因：沒有任何光束照射到樣品室內(nèi)；
檢查：將波長設定為530nm，狹縫盡量開到最寬檔位，在黑暗的環(huán)境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處，觀察白紙上有無綠光斑影像；
處置：檢查光源鏡是否轉到位？雙光束儀器的切光電機是否轉動了（耳朵可以聞聲電機轉動的聲音）？

    （2）故障：樣品室內(nèi)無任何物品的情況下，全波長范圍內(nèi)基線噪聲大；
原因：光源鏡位置不正確、石英窗表面被濺射上樣品；
檢查：觀察光源是否照射到進射狹縫的中心？石英窗上有無污染物？
處置：重新調(diào)整光源鏡的位置，用乙醇清洗石英窗；

    （3）故障：樣品室內(nèi)無任何物品的情況下，僅僅是紫外區(qū)的基線噪聲大；
原因：氘燈老化、光學系統(tǒng)的反光鏡表面劣化、濾光片出現(xiàn)結晶物；
檢查：可見區(qū)的基線較為平坦，斷電后打開儀器的單色器及上蓋，肉眼可以觀察到光柵、反光鏡表面有一層白色霧狀物覆蓋在上面；假如光學系統(tǒng)正常，最大的可能是氘燈老化，可以通過能量檢查或更換新燈方法加以判定；
處置：更換氘燈、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片（留意：此種技巧需要有一定維修經(jīng)驗者來實施）；

    （4）故障：樣品室放進空缺后做基線記憶，噪聲較大，紫外區(qū)尤甚；
原因：比色皿表面或內(nèi)壁被污染、使用了玻璃比色皿或空缺樣品對紫外光譜的吸收太強烈，使放大器超出了校正范圍；
檢查：將波長設定為250nm，先在不放任何物品的狀態(tài)下調(diào)零，然后將空比色皿插進樣品道一側，此時吸光值應小于0.07Abs；假如大于此值，有可能是比色皿不干凈或使用了玻璃比色皿；同樣方法也可判定空缺溶液的吸光值大小；
處置：清洗比色皿，更換空缺溶液；

    （5）故障：吸光值結果出現(xiàn)負值（最常見）；
原因：沒做空缺記憶、樣品的吸光值小于空缺參比液；
檢查：將參比液與樣品液調(diào)換位置便知；
處置：做空缺記憶、調(diào)換參比液或用參比液配置樣品溶液；

    （6）故障：樣品信號重現(xiàn)性不良；
原因：排除儀器本身的原因外，最大的可能是樣品溶液不均勻所致；在簡易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時重復推拉不在同一個位置上；
檢查：更換一種穩(wěn)定的試樣判定；
處置：采取正確的試樣配置手段；修理推拉式樣品架的定位碰珠；

    （7）故障：做基線掃描或樣品掃描時，基線或信號有一個大的負脈沖；
原因：掃描速度設置得過快，信號在讀取時，誤將濾光片或光源鏡的切換當做信號讀取了；
檢查：改變掃描速度； 

    （8）故障：做基線掃描或樣品掃描時，基線或信號有一個長時間段的負值或滿屏大噪聲；
原因：濾光片飼服電機“失步”，造成檔位錯位，國產(chǎn)電機尤甚；
檢查：重新開機有可能回復，或打開單色器對照波長與濾光片的相對位置來檢查（留意：打開單色器時要保護檢測器不被強光刺激）；
處置：更換飼服電機；

    （9）故障：樣品出峰位置不對；
原因：波長傳動機構產(chǎn)生位移；
檢查：通過氘燈的656.1nm的特征譜線來判定波長是否正確；
處置：對于高檔儀器而言處理手段相對簡單，使用儀器固有的自動校正功能即可；而對于相對簡單的儀器，這種調(diào)整則需要專業(yè)職員來進行了；

    （10）故障：信號的分辨率不夠，具體表現(xiàn)是：本應疊加在某一大峰上的小峰無法觀察到；
原因：狹縫設置過窄而掃描速度過快，造成檢測器響應速度跟不上，從而失往應測到的信號；按常理，一定的狹縫寬度要對應一定范圍的掃描速度；或者狹縫設置得過寬，使儀器的分辨率下降，將小峰融合在大峰里了。
檢查：放慢掃描速度看一看或?qū)ⅹM縫設窄；
處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時間常數(shù)三者擬合成一個最優(yōu)化的條件；

    （11）故障：當儀器波長固定在某個波長下時，吸光值信號上下擺動，特別是丈量模式轉換為按鍵開關式的簡易儀器；
原因：開關觸點因長期氧化所致造成接觸不良；
檢查：用手加重氣力按琴鍵時，吸光值隨之變化；
處置：用金屬活化劑清洗按鍵觸點即可；

    （12）故障：儀器零點飄忽不定，主要反映在簡易儀器上；
原因：在簡易儀器中，零點往往是通過電位器來調(diào)整，這種電位器一般是炭膜電阻制作的，使用久了往往造成接觸不良；
處置：更換電位器； 測厚儀| 測速儀| 轉速表| 壓力表| 壓力計| 真空表| 硬度計| 探傷儀| 電子稱| 熱像儀| 頻閃儀|

使用經(jīng)驗
 1、幾乎所有的光譜分析儀器(如紫外可見分光光度計、原子吸收分光光度計、一些儀器光度檢測器)都是依據(jù)的朗伯-比耳定律。  
2、很多藥品要求相對誤差在1%以內(nèi)。 
3、若石英比色皿QC的配對誤差為0.1%T，則給使用者帶來的分析誤差(△A/A)為0.5%。若QC的配對誤差為0.5%，則分析誤差為3%。 
4、檢驗石英比色皿QC的配對誤差時，QC中應裝滿蒸餾水或溶劑。
5、用超聲波清洗比色皿時，一般用20W的清洗玻璃儀器的超聲波清洗30分鐘，就能解決題目，但盡不能用大功率超聲波來清洗比色皿，會損壞比色皿，特別是對那些用黏結方法制作的比色皿。 
6、分析測試時，注進比色皿的溶液不要太滿，一般到比色皿高度的2/3即可。
7、一般的光電檢測器如硅光電池、光電管、光電倍增管有疲憊效應，應避免長時間照射、預熱時，打開樣品室蓋，防止光電檢測器受光疲憊。 
 8、A.owen在1988年指出：“吸光度丈量的正確度，取決于儀器的SBW與試樣的自然帶寬NBW的比率。SBW/NBW≤0.1時,吸光度正確度可高達99.5%。NBW≥20nm時，2nm的SBW對于吸光度的正確度測試是足夠的，可滿足大約99%的日常應用。”
9、我國藥典規(guī)定，用于藥檢的紫外可見分光光度計的SBW一定要求≤2nm。
10、光譜帶寬以nm計，狹縫寬度以mm計。
11、波長正確度在某種程度上，決定光度正確度。
12、噪聲限制紫外可見分光光度計對樣品分析濃度的下限，并直接影響儀器的信噪比。雜散光直接限制被分析測試樣品濃度的上限。
13、雜散光對參比光束和樣品光束的影響是相同的。
14、在要求較高的分析測試工作中，紫外可見分光光度計的雜散光應優(yōu)于0.05%，這樣可保證儀器有較寬的線性動態(tài)范圍。
15、W.slavin以為，雜散光通常在紫外區(qū)。實際測試時，應檢測整個光譜區(qū)的兩個端點的雜散光。
16、紫外可見分光光度計的光度噪聲與掃描速度有很大關系。一般來講，掃描速度快的紫外可見分光光度計的噪聲也大。
17、紫外可見分光光度計的基線平直度是指每個波長上的光速噪聲。測基線平直度時，掃描速度用慢速。
18、紫外可見分光光度計的線性動態(tài)范圍取決于儀器的雜散光與噪聲。
19、在常規(guī)分析中，對大多數(shù)試樣濃度大多取10～100ug/ml，相當0.3～0.7Abs左右最佳。在試樣量答應時，試樣應選擇靠近最佳吸光度值(0.434Abs)的濃度。
20、為了得到更好的光度正確度，在分析過程中，特別要留意選擇試樣的最大吸收峰處的波長作為測試波長。
21、選擇光譜帶寬的原則是，在一定的實驗條件下，測試吸光度隨光譜帶寬的變換，以獲得最大吸光度值的光譜帶寬作為欲選擇的光譜帶寬。
22、判定被測試樣是否有光解現(xiàn)象，首先要看測試數(shù)據(jù)的變化規(guī)律，對同一個試樣多次丈量，看其吸光度值是否都是向同一個方向變化，假如是，就可能有光解現(xiàn)象。